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MMBT3906 (PNP)
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-
Transistor
Plastic Encapsulate Transistor
MMBT3906 (PNP) SOT-23
SOT-23 塑封式晶體管
PNP MMBT3906
Plastic-Encapsulate Transistors SOT-23
Maximum Ratings
@T
A
=25
℃
unless otherwise noted
Parameter
Symbol
Value
Units
Collector-Base Voltage
V
CBO
-40
V
Collector-Emitter Voltage
V
CEO
-40
V
Emitter-Base Voltage
V
EBO
-5
V
Collector Current - Continuous
I
C
-0.2
mA
Collector Power Dissipation
P
C
0.2
mW
Thermal Resistance From Junction to Ambient
T
θJA
625
℃
/W
Junction Temperature
T
j
150
℃
Storage Temperature
T
stg
-55~150
℃
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Newsflash
AEC-Q200 試驗條件
AEC-Q200 試驗條件 說明
AEC-Q200
試驗條件
說明
:
AEC-Q200
的環境試驗條件
,
主要依據
MIL-STD-202
與
JEDC22A-104
規範來制定的
.
不同零件的試驗溫度除了不一樣之外
,
其施加電源
(
電壓
,
電流
,
負載
)
要求也會有所不同
.
高溫儲存屬於不施加徧壓與負載
,
但是在高溫工作壽命就需要
,
溫度循環與溫度衝擊
,
其試驗目的與手法不一樣
,
在溫度循環中高低溫變化控制溫變率
,
溫衝擊則不用
,
徧高濕
度就是俗稱的高溫高濕試驗
,
而濕度抗就是濕冷涷試驗。