最佳化0201元件裝配製程參數提高焊點良品率
  06030402元件已普遍使用了很多年,在量產應用時具有很高的良率。最近0201元件也開始在高密度產品中使用,
尺寸大約只有0402的四分之一。本文對0201元件焊點進行研究,主要討論組裝製程和線路板設計等參數在大量進行回
流焊時對這些元件良率產生的影響。
         隨著表面貼裝技術越來越成熟,人們不斷要求縮小電子產品的尺寸和重量。由於主動和被動元件尺寸的縮小以及
印刷電路板技術的改進,出現了體積更小、重量更輕、性能更優良的終端產品。目前還在做進一步研究繼續縮小
件尺寸,使得設計者能用更小的印刷電路板實現預定功能
0201元件特性
子消費品的小型化發展趨勢使得電子零件從80年代的1210
1206縮小到90年代末期的0402和0201,變化的主要動力來自
於市場對小型化低成本高性能產品的需求。0201元件在體積
和重量上比0402小75%,佔用板面空間小66%,用這種零件可
以大大降低手持式或可攜式消費類電子產品的尺寸、重量和體積。
在高頻應用場合,0201電容的等效串聯電阻(ESR)和阻抗較低,
所以比0402性能更優。電介質層的厚度減小及層數增多使0201
電容的容值範圍和0402電容相同,其容值範圍能滿足大約百分之
八十高頻模組的要求。
BORDER=0 TITLE="1:三種不同組裝製程的良品率情況.
試驗條件  
    驗採用一塊既有0201又有0402元件的印刷線路板,它是一個單
面板,長12.5英寸寬7.5英寸,厚度是標準的0.062英寸。兩種元件
的焊盤分別設計了三種不同的寬度、長度和焊盤間距,互相組合可
以得到27種不同的焊盤形式,將同樣的焊盤複制120個排成一排.
        試驗中分別採用0.008英寸、0.012英寸、0.016英寸和0.020
英寸四種元件間隔,每種焊盤以三十個為一組進行間隔測試。所
有焊盤的走線都從焊盤端部延伸出去,元件間隔試驗以相鄰元件
的側向(而非端對端)間隔進行。設計的試驗板在組裝完成後,上面
共有12,960個元件。另外試驗板上對每一種焊盤都同時設計了0°和 BORDER=0 TITLE="2:三種不同組裝製程
90°兩個方向。 中錫橋與元件間隔之間的關係
     印刷使用厚度為0.005英寸的不鏽鋼雷射切割模板,模板開孔間距
約為0.008英寸,模板沒有用微蝕刻及表面電鍍。選擇0.005英寸厚度是在0.004英寸和0.006英寸之間折衷的結果,更薄
的0.004英寸模板能使0201元件焊膏印刷效果更好,但同時卻會減少大多數應用中經常用到的其他類元件的焊錫量;而
不使用0.006英寸模板則是因為0201元件焊膏印刷效果不能接受。
   試驗同時使用免清洗型和水溶型焊膏,兩種焊膏均為90%固體含量和四號錫粉顆粒,選擇兩種焊膏是因為它們包含了
兩種應用最廣的助焊劑類型。焊膏分別由兩家不同的供應商提供,焊膏稠度約為900kcps。
焊膏印刷使用DEK公司的265 GSX印刷機,印刷製程參數設定如下:
a) 印刷速度:1.0英寸/秒
b) 刮刀類型:金屬刀片(自動轉換)
c) 刮刀角度:60度
d) 刮刀壓力:2.3磅/英寸
e) 印刷間隙:0(全接觸)
f) 分離速度:0.02英寸/秒
       件貼片由環球儀器公司的4796R HSP貼片機完成,自始至終對X軸和Y軸同時使用自動拾取校正。自動拾取校正能提高元件
拾取的可靠性,Z軸(高度)在零件拾取和貼裝時也採取完全受控方式,以提高拾取的可靠性並保証在試驗中不會出現貼裝壓力過
大或不足的情況。
        回流焊使用一台Heller公司的1,800W強制對流爐,該回流焊系統包含8個加熱區和一個冷卻區。試驗使用了兩種回流焊接環境,一種
是空氣環境,另一種是充氮環境(回流焊接區內的氧氣含量在50ppm以下)。
不良種類
      試驗過程中我們觀察到在試驗板上出現了五種不良,分別是立碑、錫橋、焊球、錫量不足和錫量過多。
試驗結果
   1顯示出三種不同組裝製程的良品率情況。由圖可見,使用免清洗焊膏在空氣環境下進行回流焊產生的不良最少,
總數為66個;使用水溶性焊膏在空氣環境下進行回流焊次之,不良有1,499個;使用免清洗型焊膏在充氮環境下進行回
流焊產生的不良數最多,為5,665個。圖1還表明在充氮環境下以及焊膏助焊成分活性增大(水溶性焊膏)時,產生的不良
數目會增多。
研究三種組裝製程的不良類型分佈發現,立碑(開路)和錫橋是兩個
主要缺陷。水溶性焊膏在空氣環境下焊接產生的錫橋比例最低,為
7.0%,接下來是免清洗焊膏在充氮環境中焊接,為15.0%,而免清
洗焊膏在空氣環境中焊接產生的錫橋最多,為21.0%。
2是三種不同組裝製程中錫橋與元件間隔之間的關係。從圖中看出
,元件間隔在0.012英寸或更大時沒有產生任何錫橋。免清洗焊膏在空
氣環境中焊接產生的錫橋數量最少,為14個;水溶性焊膏在空氣環境
中焊接產生的橋接數量排在第二,為99個;而免清洗焊膏在充氮環境
中焊接產生的橋接數量最多,有866個。此外在最小的0.008英寸間距下
,用免清洗焊膏在空氣環境焊接時18種焊盤中有12種焊盤沒有產生任何
錫橋,用水溶性焊膏在空氣環境中焊接時有10種焊盤沒有錫橋,而使用
免清洗焊膏在充氮環境中焊接時只有6種焊盤沒有產生錫橋。
       3是焊點不良與焊盤的寬度及組裝製程的關係。這些數據是每種組裝製程都選用最佳焊盤形式而得出的,試驗時
將焊盤的長度和焊盤間距設為常量,只對焊盤寬度進行變化。通常來講,三種組裝製程的良品率均隨焊盤寬度增大而
提高,而不良率在焊盤寬度為0.012到0.015英寸之間較為敏感。水溶性焊膏在空氣環境中焊接和免清洗焊膏在充氮環境
中焊接都是在焊盤寬度最大即0.018英寸時焊點缺陷最少,但這種情況在免清洗焊膏空氣環境下焊接時有一些改變,此
時最高良品率是在焊盤寬度居中時(0.015英寸)得到的,然而由於使用這種製程組裝的板子產生的不良數量非常少,所
以焊盤寬度在0.015英寸和0.018英寸時不良數目之間的差異在統計上並不明顯。如果從組裝製程的角度來看良品率變
化趨勢,可以看到免清洗焊膏在空氣環境中焊接對焊盤寬度變化最不敏感,而免清洗焊膏在充氮環境下焊接製程則對
焊盤寬度變化最為敏感。
       4給出了焊點缺陷數量與焊盤長度及組裝製程的關係。
與前一張圖類似,這些數據也是在每種組裝製程選用最佳焊盤形式
時得出,試驗將焊盤寬度和焊盤間距設為常量,只對焊盤長度進行
變化。從圖上我們可以看到,對所有三種組裝製程而言最佳焊盤長
度都是0.012這個中間值,通常來說焊盤長度在0.008到0.012英寸之間
對良品率的影響最大。從組裝製程方面來看,免清洗焊膏在充氮環境
下焊接對造成不良的影響最為敏感,比其他製程更容易受焊盤長度的
影響。使用免清洗焊膏在空氣中焊接時,焊盤長度為0.012英寸和0.016
英寸均沒有發現任何焊點缺陷。
本文結論
        在試驗使用的三種組裝製程中,免清洗焊膏在空氣中焊接產生的立碑(開路)與錫橋的數量最少,同時用這種製程
時大部份焊盤不會有不良產生,這種組裝製程的不良數對焊盤樣式變化最不敏感(相對這項研究中三種製程而言)。其
次產生不良數量較少的是水溶性焊膏在空氣環境中焊接,最後是免清洗焊膏在充氮環境中焊接。較低氧氣含量(50ppm
以下)和更強活性焊膏助焊成分會降低組裝的良品率及組件牢固性,對水溶性焊膏在空氣環境下焊接以及免清洗焊膏在
充氮環境中焊接兩種製程來說,較長的回流焊時間能夠減少焊點不良的數量,在充氮製程中氧氣含量更高也能減少不
良數量,使用氮氣一般只能增加焊錫的潤濕力和縮短潤濕時間。
元件側向間隔0.008英寸時所有三種製程都不會產生錫橋,回流焊
使用氮氣以及用水溶性焊膏會增加錫橋的數量,同時小焊盤比大焊
盤更容易產生錫橋,焊盤寬度或焊盤長度減小都會加劇錫橋產生的
可能性。目前正在對元件間隔在0.008英寸以下的情況進行研究,以
確定具體組裝製程最小可接受元件間隔。
   我們可以藉由減少元件端部下面的焊膏印刷量來減少或杜絕錫珠,
應注意當元件兩個焊盤的焊膏印刷間距增加時立碑(開路)數量會增加。
進行模板設計時,模板開孔的間距最大值應保持在0.010到0.012英寸
之間。試驗中沒有使用“屋型”和“V形槽”開孔設計,因為0201元
件的焊盤尺寸太小(焊盤間距太小也無法使用)。
      元件方向對免清洗焊膏在空氣環境中焊接並不重要,但是對其他兩種製程卻很重要。與免清洗焊膏或回流焊時採
用更低含氧量相比,水溶性焊膏的助焊成分活性更強,能增大已熔焊錫的潤濕力和潤濕速度。90度方向的元件(它的一
端比另一端先進入回流焊區),使其更能適應更高的潤濕力和更短的潤濕時間。
        5顯示了大量進行0201元件回流焊時的元件焊盤設計建議。建議兩焊盤間距0.009英寸,焊盤長度0.012英寸,
寬度在0.015英寸到0.018英寸之間,具體取決於助焊劑成分類型和焊膏回流焊環境。0.018英寸寬度適用於充氮焊接環
境、氧氣含量很低(50ppm以下)以及焊劑活性很強或潤濕時間很短的情況;而0.015英寸寬度焊盤則適用於在空氣環境
中進行回流焊接、焊膏溶劑活性較弱以及有較長的潤濕時間等情況
      目前正在對印刷電路板的阻焊層做進一步的研究,看看如果在元件下面沒有阻焊層或者採用更常見的薄型(0.0007
到0.001英寸)阻焊層會有什麼樣的結果,這樣就能夠確定使用阻焊劑把元件托離焊盤是否會有影響。
     下一步的研究方向將包括貼片精度、焊膏助焊劑化學成分、更小元件間隔(0.008英寸以下)和回流焊參數優化等對焊
點品質的影響。
參考文獻:
1 Prasad, R., "Surface Mount Technology: Principals and Practice", Van Nostrand Reinhold, New York,1997
2 Montgomery, D.C., Design and Analysis of Experiments - 4th Edition, John Wiley & Sons, Inc., New York, NY, 1997, p. 51.